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材料測(cè)試平臺(tái)

納米粒度與Zeta電位分析儀
發(fā)布日期:2022-09-26         點(diǎn)擊量:

品牌

microtrac

型號(hào)

nanotrac wave II

放置地點(diǎn)

德勝樓906

負(fù)責(zé)人

陳靜/楊霞

聯(lián)系方式

13699738965/15892603910

使用方式

培訓(xùn)預(yù)約使用

主要技術(shù)指標(biāo)

1. 粒徑測(cè)量系統(tǒng)

粒徑測(cè)量范圍:0.3nm-10um;檢測(cè)角度:180º;樣品濃度范圍:0.1ppm - 40% (Vol);

Zeta電位測(cè)量系統(tǒng)

2.電位測(cè)量范圍:-200mV - +200mV;濃度范圍:0.1ppm - 40%(Wt);分子量測(cè)量范圍:300-2×107Da。

研究領(lǐng)域

納米級(jí)、亞微米級(jí)固體顆粒與乳液。

測(cè)試內(nèi)容

用于測(cè)量顆粒粒度及分子大小、分子量、蛋白質(zhì)電泳遷移率、膠體與納米顆粒的ZETA電位。

管理辦法

□有 □無(wú)

委托測(cè)試單

□有 □無(wú)

儀器狀態(tài)

正常


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